FIB - Odaklanmış İyon Demeti, İTÜ Surface Lab bünyesinde Karakterizasyon Laboratuvarı altyapısının bir parçasıdır. Bu sayfa cihazın laboratuvar akışındaki yerini, hangi ölçüm veya proses adımlarını desteklediğini ve uygulamalı yüzey mühendisliği çalışmalarında neden önemli olduğunu özetler.
Pratikte bu cihaz; kaplama davranışını, proses kararlılığını, mikroyapısal yanıtı veya yüzey performansını kontrollü araştırma koşullarında karşılaştırmak için kullanılır. Amaç yalnızca cihazı listelemek değil, deney tasarımındaki ve sonuç yorumundaki rolünü açık biçimde göstermektir.
Aşağıdaki özet, meta kartları ve ayrıntılı içerik; cihazı gerçek laboratuvar sorularına bağlayacak şekilde düzenlenmiştir. Böylece birikim stratejisi, korozyon yanıtı, tribolojik performans, karakterizasyon derinliği ve proje-yayın çıktılarındaki kullanım bağlamı daha net görünür.
FIB sistemi, mikroyapı hazırlama, kesit alma ve yüksek hassasiyetli yüzey düzenleme çalışmaları için kullanılır.
| Cihaz | FIB - Odaklanmış İyon Demeti |
|---|---|
| Marka | JEOL JEM-9320FIB |
| Ozellikler | |
|---|---|
| Ion Source | Ga liquid-metal source |
| Acc. Voltage | 5 to 30 kV (5kV step variable) |
| Magnification | ×150 to ×300,000 (LOW MAG ×50) |
| Max.Current | 30nA |
| Best image resolution | 6nm (@30kV, WD30mm) |
| Tilt angle | ±60° |
| Sample movement | X Y ±1.2mm |
İlgili Rehberler
Yüzey Karakterizasyon Yöntemleri
Görüntüleme, kimya ve topografyayı birleştiren genel yorumlama çerçevesine geçin.
SEM-EDS Nasıl Yorumlanır?
Kaplama ve bozunma davranışını okumak için morfoloji ile bileşimi birlikte değerlendirin.
XRD Nasıl Yorumlanır?
Kaplama yorumunu faz ve kristalografik bilgiyle destekleyin.
Profilometri Nedir?
Yükseklik haritalarından pürüzlülük yorumuna ve yüzey süreç kararlarına geçin.
