SEM - Taramalı Elektron Mikroskobu, İTÜ Surface Lab bünyesinde Karakterizasyon Laboratuvarı altyapısının bir parçasıdır. Bu sayfa cihazın laboratuvar akışındaki yerini, hangi ölçüm veya proses adımlarını desteklediğini ve uygulamalı yüzey mühendisliği çalışmalarında neden önemli olduğunu özetler.
Pratikte bu cihaz; kaplama davranışını, proses kararlılığını, mikroyapısal yanıtı veya yüzey performansını kontrollü araştırma koşullarında karşılaştırmak için kullanılır. Amaç yalnızca cihazı listelemek değil, deney tasarımındaki ve sonuç yorumundaki rolünü açık biçimde göstermektir.
Aşağıdaki özet, meta kartları ve ayrıntılı içerik; cihazı gerçek laboratuvar sorularına bağlayacak şekilde düzenlenmiştir. Böylece birikim stratejisi, korozyon yanıtı, tribolojik performans, karakterizasyon derinliği ve proje-yayın çıktılarındaki kullanım bağlamı daha net görünür.
SEM-EDS sistemi, yüzey morfolojisini yüksek büyütmede görüntüler ve element analizi yapar.
|
Cihaz |
SEM - Taramalı Elektron Mikroskobu |
|---|---|
|
Marka |
JEOL JSM 5410 |
Scanning Electron Microscope (SEM) is a type of electron microscope that produces images of a sample surface by scanning samples with a focused beam of electrons. The JEOL JSM-5410 SEM in our lab is capable of imaging sample surface morphologies by using secondary electrons or back-scattered electrons, equipped with an Energy Dispersive X-ray Spectrometer (EDS) for chemical analysis. With robust W filament, the SEM is capable of characterizing different materials.
- Resolution: 3.5 nm (Accv. 30 kV, WD = 6 mm, secondary electron image)
- Magnification: x15 (WD = 48 mm) to 200,000 (25 steps)
- Image modes:
– Secondary electron image (SEI) HV Mode
– Backscattered electron image (BEI) HV Mode
– Backscattered electron image (BEI) LV Mode
- Accelerating voltage: 0.5 to 30 kV
- EDAX Genesis Software: Point, line, and area EDS analysis as well EDS mapping
İlgili Rehberler
SEM-EDS Nasıl Yorumlanır?
Kaplama ve bozunma davranışını okumak için morfoloji ile bileşimi birlikte değerlendirin.
Yüzey Karakterizasyon Yöntemleri
Görüntüleme, kimya ve topografyayı birleştiren genel yorumlama çerçevesine geçin.
XPS Nedir?
Yüzeye duyarlı kimyasal analizlerin oksit tabakaları ve arayüzleri nasıl çözdüğünü görün.
XRD Nasıl Yorumlanır?
Kaplama yorumunu faz ve kristalografik bilgiyle destekleyin.
Profilometri Nedir?
Yükseklik haritalarından pürüzlülük yorumuna ve yüzey süreç kararlarına geçin.
