Optik Profilometre, İTÜ Surface Lab bünyesinde Karakterizasyon Laboratuvarı altyapısının bir parçasıdır. Bu sayfa cihazın laboratuvar akışındaki yerini, hangi ölçüm veya proses adımlarını desteklediğini ve uygulamalı yüzey mühendisliği çalışmalarında neden önemli olduğunu özetler.
Pratikte bu cihaz; kaplama davranışını, proses kararlılığını, mikroyapısal yanıtı veya yüzey performansını kontrollü araştırma koşullarında karşılaştırmak için kullanılır. Amaç yalnızca cihazı listelemek değil, deney tasarımındaki ve sonuç yorumundaki rolünü açık biçimde göstermektir.
Aşağıdaki özet, meta kartları ve ayrıntılı içerik; cihazı gerçek laboratuvar sorularına bağlayacak şekilde düzenlenmiştir. Böylece birikim stratejisi, korozyon yanıtı, tribolojik performans, karakterizasyon derinliği ve proje-yayın çıktılarındaki kullanım bağlamı daha net görünür.
Temassız optik profilometre, yüzey topografyası ve pürüzlülük ölçümlerini yüksek doğrulukla gerçekleştirir.
| Cihaz | Optik Profilometre |
|---|---|
| Marka | Veeco WYKO NT1100 |
The Wyko® NT1100 provides accurate, non- contact surface metrology for applications in MEMS, thick films, optics, ceramics, advanced materials and many more.
| Ozellikler | |
|---|---|
| Measurement Techniques | optical phase-shifting and white light vertical scanning interferometry |
| Olcum Kabiliyeti | three-dimensional, non-contact, surface profile measurements |
| Objectives | 1.5X, 2.5X, 5.0X, 10X, 20X, 50X; long working distance objectives available; optional manual turret |
| Field-of-View Lenses | 0.5X, 0.75X, 1.0X, 1.5X, 2.0X |
| Measurement Array | user-selectable, maximum array 736 x 480 |
| Light Source | tungsten halogen lamp (user-replaceable); manual filter selection |
| Stages | manual; ± 50.8mm (± 2in.) X/Y translation, ± 4° tip/tilt; optional automated stitching stage, ± 50.8mm (2in.) X/Y |
| Optical Assembly | integrated illuminator; interchangeable discrete field-of- view lenses; closed – loop precision vertical scanning assembly |
| Video Display | 127mm (5in.) monochrome monitor |
| Computer System | PC with latest Celeron® processor, 430mm (17in.) SVGA monitor; optional printers and network cards |
| Software | Wyko Vision® software running under Microsoft® Windows XP® |
İlgili Rehberler
Profilometri Nedir?
Yükseklik haritalarından pürüzlülük yorumuna ve yüzey süreç kararlarına geçin.
Yüzey Pürüzlülüğü Nasıl Ölçülür?
Pürüzlülük metriklerini ıslanabilirlik, aderans, sürtünme ve işlevsel tepkiyle ilişkilendirin.
Yüzey Enerjisi Nedir?
Yüzey enerjisi ve temas açısı üzerinden ıslanabilirlik ve aderansı birlikte okuyun.
Kaplama Kalınlığı Ölçüm Yöntemleri
Film kalınlığını ve kesit geometrisini okumakta kullanılan pratik yöntemleri karşılaştırın.
Yüzey Karakterizasyon Yöntemleri
Görüntüleme, kimya ve topografyayı birleştiren genel yorumlama çerçevesine geçin.
SEM-EDS Nasıl Yorumlanır?
Kaplama ve bozunma davranışını okumak için morfoloji ile bileşimi birlikte değerlendirin.
XRD Nasıl Yorumlanır?
Kaplama yorumunu faz ve kristalografik bilgiyle destekleyin.
Film Kalınlığı Performansı Nasıl Etkiler?
Kalınlığı yalnızca geometrik değil, performans belirleyen bir değişken olarak değerlendirin.
